余先育校友回访母校并作素质报告会

发布时间:2023-09-28 发布者: 浏览次数:

武科大网讯(通讯员 黄星宇)为了喜迎我校办学125周年,促进专业学习与生产实际相接轨,学部金属材料工程专业2002届校友、上海优睿谱半导体设备有限公司董事长余先育先生于9月27日回访母校,教六楼6560报告厅作了题为《身怀报国志,争做追梦人——从半导体量测检测设备的发展看科学技术的革新》的素质报告会。


余先育首先以半导体芯片生产流程为引,从离子注入、扩散、镀膜、光刻、刻蚀、抛光、金属互联、清洗等8个环节,为同学们详细的介绍了现阶段芯片生产工序及技术现状。然后,针对半导体前道量测基本原理和公司具备核心竞争力的量测检测设备进行了详细介绍和展示。最后,他结合自己16年来在半导体领域工作创业的宝贵经验,向同学们分享了“先做人、后做事”“君子博学而日参省乎己”等七点个人感悟。

报告结束后,同学们针对研究方向、实习实践就业去向、婚恋观念等个人发展及行业发展等问题与余先育进行了交流和探讨2020级本科生周康宁表示,余学长的分享深入浅出,紧密贴合半导体生产最前沿分享了自己求学、工作、创业期间的宝贵经验,让我对于半导体行业最新发展和所学专业的应用有了更清晰的认识,也对自己人生规划和职业发展有了更明晰的想法”。



报告人简介:

余先育,我校金属材料工程专业2002届校友,2006年4月获上海交通大学微电子学与固体电子学硕士学位,2006年至2009年担任美国应用材料(以色列PDC总部)全球技术支持工程师,2010至2021年担任睿励科学仪器(上海)有限公司市场总监,2021年9月创立上海优睿谱半导体设备有限公司,并担任董事长。

余先育先生16年深耕于芯片制造前道量测设备领域,致力于半导体前道量测设备国产替代。16年来成功推出4款填补国内空白的前道量测设备(FSD系列缺陷检测设备;WSD系列缺陷检测设备;FTIR系列膜厚测量设备汞探针测量晶圆电阻率设备),获江苏省无锡市“飞凤人才”称号。


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